Szukaj SN74ABT8245DWR w pozostałych magazynach lub przeglądaj stany magazynowe w formie listy.
Symbol produktu Opis |
Producent | Stan | Magazyn | Dostępność | Cena |
SN74ABT8245DWR IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC |
Texas Instruments | ![]() |
Magazyn V | do 7 dni | ![]() |