Szukaj SN74ABT8245DW w pozostałych magazynach lub przeglądaj stany magazynowe w formie listy.
Symbol produktu Opis |
Producent | Stan | Magazyn | Dostępność | Cena |
SN74ABT8245DW IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC |
Texas Instruments | Magazyn V | do 7 dni | ||