Wyniki wyszukiwania: 2 dla "SN74ABT8646DW".
Szukaj w stanach magazynowych | |||||
Symbol produktu Opis |
Producent | Stan | Magazyn | Dostępność | Cena |
SN74ABT8646DW IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC |
Texas Instruments | Magazyn V | do 7 dni | ||
SN74ABT8646DW |
TI | 141 | Magazyn XV | do 21 dni | |